人民網日本語版 2023年3月12日(日) 22時30分
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馮丹教授は「スマホが使えば使うほどフリーズしやすくなる重要な原因は、スマホのメモリに保存されたテキスト、画像、動画などがどんどん増えて、メモリへのアクセスに時間がかかるようになるからだ」と述べた。
第14期全国人民代表大会(全人代)第1回会議の「代表通路」で、全人代代表で華中科技大学コンピューター科学・技術学院の教授の馮丹氏は「スマートフォンの中に使えば使うほど動作が遅くなるものがある」問題に触れ、「スマホが使えば使うほど動作が遅くなり、フリーズしやすくなる重要な原因は、スマホのメモリに保存されたテキスト、画像、動画などがどんどん増えて、メモリへのアクセスに時間がかかるようになるからだ」と述べた。
馮氏はこの問題について、「関連プロジェクト研究チームが開発したメモリ断片化解消技術は、いくつかの中国国産主流ブランドの端末にすでに応用されている。また自分とチームはメモリデバイスの国産化推進に力を入れ、ハイレベルのメモリシステムとそのコア重要技術における海外メーカーの独占状態を打破した。国産メモリシステムの中国市場シェアはプロジェクトが立ち上がる前は5%に満たなかったが、その後発展を遂げて今では60%以上になった」と述べた。(提供/人民網日本語版・編集/KS)
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